粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。粒度仪的注意事项(1)分离颗粒的能力与粒度测试技术选择依据对颗粒的分离能力。将测量颗粒的技术分为单颗粒计数、颗粒分级和整体平均结果三类。图像分析、显微镜是典型的单颗粒技术方法；分级方法包括筛分、沉降、离心和颗粒色谱等；整体平均的粒度分析方法，从收集到的所有测量颗粒产生信号的总和计算粒度分析，即测量结果由解析得到，...

物理吸附仪用于煤层气、页岩气在不同压力条件下等温吸附量、解吸量测试。高温高压吸附测试仪，包括气体增压装置、吸附装置、温度控制装置、升降装置和数据采集系统；气动开关阀连接在氦气瓶，气动开关阀出口端连接安全阀、梭阀和增压泵，增压泵的出口并联有2~8个气动切换阀；每个气动切换阀连接一个参考罐和一个样品吸附罐：在参考罐和样品吸附罐的另一端分别连接有压力变送器。在恒温油槽的底部固定有制冷系统的蒸发器；在恒温油槽内固定有带孔隔板、电加热元件和温度控制仪。效果结构合理、紧凑，便于移动，使用...

Zeta电位仪可用于测定分散体系颗粒物的固-液界面电性(ζ电位)，也可用于测量乳状液液滴的界面电性，也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。常见的测试zeta电位方法有几种？1)电泳光散射法市面上常见的测试zeta电位的方法是利用光学法，也就是电泳光散射法，由于此方法可以和动态光散射法相结合，随着纳米粒度及zeta电位仪的市场扩大，这种方法也被广大客户接受，执行ISO-13099-2标准。此方法的弊端有：*样品必须要进行稀释后测试；*不同浓度对测试结果影响比较大；*测试结...

纳米粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器，采用数字相关器的纳米激光粒度仪，其采用高速数字相关器和高性能光电倍增管作为核心器件，具有操作简便、测试快捷、高分辨、高重复及测试准确等特点，是纳米颗粒粒度测试的产品。纳米粒度仪具有的性能特点◆先进的测试原理:本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱...

纳米粒度仪一般有动态光散射法和超声衰减法，后者主要用于高浓、高粘和有色样品的测定，粒度范围可以覆盖纳米区域和微米区域。本文主要介绍动态光散射法（DynamiclightScattering,即DLS),也叫光子相关光谱法。这是目前市面上常见的应用广泛的纳米粒度表征手段，具有速度快，样品用量少，重复性好等特点，并且可以附加光散射电泳法测定Zeta电位的功能。但并不适用于分子量的测定。动态光散射纳米粒度仪原理是基于布朗运动，粒子的布朗运动导致光强的波动；布朗运动的速度依赖于粒子的...

国产纳米粒度仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过...

Zeta电位仪是一个负反馈放大--输出系统，与被保护物(如埋地管道)构成闭环调节，通过参比电极测量通电点电位，作为取样信号与控制信号进行比较，实现控制并调节极化电流输出，使通电点电位得以保持在设定的控制电位上。Zeta电位仪的阴极保护技术被广泛地应用于埋地金属管道和处于腐蚀介质中的设施，以防止或延缓金属管道及设施的腐蚀，延长其使用寿命。阴极保护就是对被保护的金属管道及其它需保护的设施实施外加直流电，进行阴极极化。作为阴极保护系统的主要仪器，用以提供直流电源，设定通电点电位。Z...

粒度检测仪是一款集成打印和自充电功能的现场检测用油液污染分析仪器，它不但可以用来实时监控液压和润滑系统的油液清洁度变化状况，使装备维护者能够在早期进行干预，以防止污染物对液压系统部件的磨损或破坏，还可以作为售后或质检人员的临时检测工具，用来判断在用油的品质，以免因油品不良造成机器设备出现故障。粒度检测仪可以针对液压系统中的油液颗粒度、清洁度和污染物进行监测和分析，提高系统中的清洁效率。液压设备如果受到颗粒物的侵蚀，一定要使用这些专业的过滤器来帮助系统更好的进行清洁。该部件使用...