当前位置:首页   >  产品中心  >  电化学分析仪  >  阻抗分析仪  >  微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

简要描述:微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470结合了电化学阻抗EIS技术和微区扫描技术,可以的测试局部微区的阻抗以及相应参数。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-12-28
  • 访  问  量:3877

详细介绍

微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

应用:

* 薄膜阻抗复杂成像

* 池生长介质直接成像

* 光点化合反应特征化

* 电池

* 传感器

* 金属以及合金的钝化

* 燃料池

* 腐蚀

 

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

地址:北京市昌平区西三旗建材城西路新龙大厦A座2010室

邮箱:cici.ding@insearch-tech.com

传真:86-10-81706682

  • 微信客服

  • 微信公众号

版权所有Copyright © 2024 仪思奇(北京)科技发展有限公司 All Right Reserved    备案号:京ICP备16057128号-2     sitemap.xml     技术支持:化工仪器网     管理登陆